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NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統(tǒng)用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優(yōu)秀的重復(fù)性和準確性，支持用戶設(shè)定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動保存及分析功能。

Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺可方便的進行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺可方便的進行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量，它結(jié)合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能，而無需縫合。

NanoSystem CS-2000氣缸內(nèi)壁表面形貌儀結(jié)合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術(shù)之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產(chǎn)水平能力的三維表面形貌。